溅射中性粒子质谱仪 参考价：面议
MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样...
二次离子质谱仪 参考价：面议
二次离子质谱仪适合做多层薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式扫描，自动测量正、负和中性粒子。
飞行时间二次离子质谱仪 参考价：面议
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及...
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